半導体、液晶ディスプレイ、太陽光発電、マイクロエレクトロニクスなどの精密製造分野では、製造工程全体を通して極めて厳格な清浄度基準が求められます。超低残留物、超低粒子発生、超低イオン放出を特長とするBSL(Baoshili)クリーンルームワイパーは、上記産業において広く採用され、活用されています。
お客様からの評価は、BSLの厳格な専門的品質管理に由来します。BSLマイクロファイバー クリーンルーム用ワイパー 本稿では、研究対象としてクリーンルーム用ワイパーの主要な試験項目を詳細に分析する。
耐摩耗性は一般的に、生地の物理的特性試験として分類されます。しかしながら、クリーンルームワイパー業界では、摩耗によって直接微粒子が発生するため、この指標は清浄度管理の範囲に組み込む必要があります。BSLマイクロファイバークリーンルームワイパーは、高度な連続織りと超音波エッジシーリング加工により、微粒子の脱落をほぼゼロに抑え、拭き取り中の二次汚染を効果的に防止します。
液体吸収試験は、IEST-RP-CC004.3のセクション8に従って実施され、クリーンルームワイパーの吸収性能の評価に重点を置いています。
クリーンルーム用ワイパーは、洗浄中に電子部品や半導体チップなどのデリケートな材料と接触することがよくあります。ワイパー内部の塩化物イオン(Cl⁻)やナトリウムイオン(Na⁺)などの有害な不純物イオンが製品表面に移行すると、回路の短絡、材料の腐食、機器の性能低下を引き起こす可能性があります。
したがって、クリーンルーム用ワイパーは、IEST-RP-CC004.3の7.2項に規定されているように、無機陰イオンおよび陽イオンについて試験を受ける必要があります。専門家による試験により、BSLクリーンルーム用ワイパーが安定したイオン含有量を維持していることが確認され、イオン汚染を効果的に回避できます。
クリーンルームワイパーは、電子機器、半導体、光学機器、医療機器など、高い清浄度が求められる分野で広く使用されています。NVRテストは、グリース、シリコーンオイル、可塑剤、無機塩類など、クリーンルームワイパーから析出した非揮発性残留物を検出するように設計されています。これらの残留物は、拭き取り後も作業面に残る可能性があり、製品の性能や歩留まりを低下させる恐れがあります。
BSLクリーンルームワイパー製品はすべて、IEST-RP-CC004.3のセクション7.1に準拠して試験されています。現在、BSLクリーンルームワイパーは、脱イオン水、イソプロピルアルコール、その他の試験溶液において優れた試験結果を示しており、非揮発性残留物の汚染を徹底的に防止できます。
LPC試験は、湿潤塗布の状況をシミュレートし、拭き取り布から放出される粒子数を定量化することで、高精度機器、光学面、その他のデリケートな製品への汚染リスクを評価します。クリーンルーム用ワイパーの品質管理における中核的な要素として、LPC試験は、高水準のクリーン環境における生産の安全性と製品の品質を確保します。
IEST-RP-CC004.3のセクション5.1および5.2の要件に従い、すべてのLPC指標は BSLクリーンルームワイパー 業界標準を完全に満たしています。
製品の一貫した安定した性能を保証するために、 BSL 当社は、赤外線分光計、イオンクロマトグラフ、液体粒子カウンター、エネルギー分散型X線蛍光分光計、ハミルトンタンブルテスター、顕微鏡などの専門的な試験装置を備えたクラス100の研究所を設立しました。これにより、LPC、NVR、イオン含有量などの主要指標において、すべての製品バッチが確実に基準を満たしていることを保証します。当社のクリーンルームワイパーは、クラス10、クラス100、クラス1000のクリーンルームやその他の多様な用途における使用ニーズを満たすために、幅広い仕様を取り揃えています。
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